瑞典XcounterXCFLITE X XCFLITE FX PDT25-DE双能光子计数探测器

XC-FLITE X1、X2、X3是直接数字转换、自扫描、双能采集、光子计数X射线探测器，用于数字X射线成像系统，基于新型强大的CdTe-CMOS传感器平台研发而成，XC-FLITE X系列适用于潜在宽泛的能量范围。XC-FLITE X系列可以基于帧率成像，也可以采用时间延迟总和（TDS）模式，扫描速度**高90mm/s。

XC-FLITE X系列，通过GigE接口将XC-FLITE X系列连接到计算机

上，自带灵活的软件开发包，可控制所有XC-FLITE X的功能；可

用在Windows XP、Vista、 Windows7和Windows8系统平台。

物理参数

尺寸 （L×W×H）：XC-FLITE X1：32.9×22.0×5.5cm

XC-FLITE X2：54.2×40.2×8.7cm

XC-FLITE X3：63.0×57.1×8.5cm

成像面积：X1：15cm×15cm,X2：30cm×30cm,X3：45cm×45cm

温度控制：Internal Peltier温度控制

环境温度：+10 - +40℃

储藏温度：-10-+60℃ @ 10% - 95% 湿度

射线窗：碳纤维， 厚500 微米

射线屏蔽：根据应用

传感器

传感器数量：X1：1X2：2 X3：3

传感器类型：双能光子计数 CdTe-CMOS

传感器厚度：0.75mm-2.0mm CdTe

有效面积：X1：154.7×12.8mm(1536×128像素),X2：309.4×12.8mm(3072×128像素),X3：464.1×12.8mm(4608×128像素)

像素：

像素填充率：**

性能

**大扫描速度：X1：90mm/s

X2 & X3：255 mm/s

帧率：**高1000 fps （也可选择时间延迟总和模式）

动态范围：12 bits

像素合并：1×1，2×2， 4×4

曝光时间：

DQE（0）： 85%@RQA5 spectra

MTF：＞80% @ 2lp/mm

＞45% @ 5lp/mm

管KV范围：15-250kVp

内部测试模式：伪随机调试模式

外部触发输出：3.3V TTL

输入：5V

滞后：0%

拖影：＜0.1% X射线开启后1分钟，（12μGy）

XC-FLITE FX1、FX2、FX3是直接数字转换、双能采集、光子计数X射线探测器，用于数字X射线成像系统，基于新型强大的CdTe-CMOS传感器平台研发而成，XC-FLITE X系列适用于潜在宽泛的能量范围。 XC-FLITE X系列可以基于帧率成像，也可以采用时间延迟总和（TDS）模式。引进反符合技术的双能采集功能，是XC-FLITE FX系列产品的先进之处，在双能采集过程中，收集到的光子能量分别设置为两个独立的阈值，并分别读出，两个能量设置可以用来区分材料，为医疗和工业新成像技术开启了大门。反符合技术的引进，可以通过保证将每一个光子信号分布在正确的像素点上，以获取更高的能量分辨率。集成 XC-FLITE FX系列，通过GigE接口将XC-FLITE FX系列连接到计算机上，自带灵活的软件开发包，可控制所有XC-FLITEFX的功能；可用在Windows XP、Vista、Windows7和Windows8系统平台 应用 *小范围辐照 *小动物成像 *实验室样品和标本成像 *工业检测（NDT） 特点&优势 *三种尺寸可选 *CdTe-CMOS传感器，高品质成像 *双能采集，具有材料区分能力 *反符合技术**的能量分辨率 *可基于帧率成像，也可以选择时间延迟总和（TDS）模式 *兼容Windows操作系统，从XP到Windows8 *绑定强大的可编程的开发软件

 基本参数

物理参数 尺寸 （L×W×H） XC-FLITE FX1：23.1×13.1×6.0 cm XC-FLITE FX2：38.6×13.1×6.5 cm XC-FLITE FX3：54.0×13.1×6.5cm 

温度控制 内部的珀尔帖效应温度控制环境温度 +10 - +40℃

储藏温度 -10-+60℃ @ 10% to 95% 湿度

射线窗 碳纤维， 厚500μm

射线屏蔽根据应用

传感器 传感器数量 FX1：1 FX2：2 FX3：3 传感器类型 双能光子计数 CdTe-CMOS 传感器厚度 0.75mm-2.0mm CdTe 

有效面积 FX1：154.7×12.8mm (1536×128像素) FX2：309.4×12.8mm (3072×128像素) FX3：464.1×12.8mm（4608×128像素）

像素 100μm 像素填充率 **

性能 帧率 **高1000 fps（也可选择时间延迟求和模式）

动态范围 12 bits

图像面元 1×1，2×2，4×4 

成像时间 100μs-5s DQE（0） 

Detective Quantum Efficiency 85%@RQA5 spectra 

MTF Modulation Transfer Function ＞80% @ 2lp/mm ＞45% @ 5lp/mm 

管KV范围 15-250kVp 

外部触发输出 3.3V TTL 输入 5V

滞后 0% 

拖影 ＜0.1% X射线开启后1分钟，（12μGy

）分辨率和DQE曲线 （反符合开CC on和闭CCoff） 

PDT25-DE

PDT25-DE 紧凑型、直接数字转换、双能采集、光子计数X射线探测器，用于数字X射线成像系统，基于新型强大的CdTe-CMOS传感器平台研发而成，PDT25-DE是一个小视场探测器，适用于潜在宽泛的能量范围。 PDT25-DE可以基于帧率成像，也可以采用时间延迟总和（TDS）模式。 引进反符合技术的双能采集功能，是PDT25-DE先进之处，在双能采集过程中，探测到的光子能量分别设置为两个独立的阈值，并分别读出，两个能量设置可以用来区分材料，为医疗和工业新成像技术开启了大门。采用反符合技术，可以确保将每一个光子信号分布在正确的像素点上，以获取更高的能量分辨率。集成通过高速率USB接口将PDT25-DE连接到计算机上，自带灵活的软件开发包，可控制所有PDT25-DE的功能；可用在Windows XP、Vista 、Windows7和Windows8系统平台上。

 应用 *小范围辐照 *小动物成像 *实验室样品和标本成像 *反向散射成像 

*工业检测（NDT） 特点和优势 *CdTe-CMOS传感器，高品质成像 *双能采集，具有材料区分能力

*反符合技术**的能量分辨率 *可基于帧率成像，也可以选择时间延迟总和（TDS）模式 

*兼容Windows操作系统，从XP到Windows8 

*绑定强大的可编程的开发软件

 技术参数

 物理参数 

尺寸 （L×W×H） 94×54×20mm 

重量 150g（235g 带钨防护）

温度控制 内部的珀尔帖效应温度控制环境温度 +15 - +45℃

储藏温度 -10 - +50℃ @ 10% -95% 湿度**大

消耗功率 10W 

射线窗碳纤维， 厚250μm 射线屏蔽 根据应用 

传感器 传感器类型 双能光子计数 CdTe-CMOS 

传感器厚度 0.75mm-2.0mm CdTe 

有效面积 25.6×25.6 mm2

像素 100μm 像素填充率 ** 性能 

帧率 **高35fps

动态范围 12 bits 

成像时间 100μs-5s （通过软件，可以设置更长时间）

DQE（0） DetectiveQuantum Efficiency 85%@RQA5 spectra MTF Modulation Transfer Function ＞80% @ 2lp/mm ＞45% @ 5lp/mm

管KV范围 15-140 kVp 内部测试图样

外部触发输出 3-3 VTTL 输入 3-15V

滞后 0% 拖影 ＜0.1% X射线开启后1分钟（12μGy）

 分辨率和DQE曲线 （反符合开CC on和闭CC off）